Mit der Integration der Heliotis H8/H8M Weißlicht-Interferometer-Sensoren erweitert EyeVision die Funktionen um hochpräzise submikrometergenaue 3D-Höhendaten. Anwender können diese Messwerte nahtlos mit bestehenden 2D- und 3D-Analysen, KI-basierten Erkennungsroutinen, Code-Lesefunktionen sowie klassischen Messtools kombinieren. Dichte 3D-Punktwolken, detaillierte Höhenkarten und hochdynamisches Weißlichtinterferenzprofiling verbessern die Oberflächeninspektion deutlich. Die hardwareunabhängige Architektur und der Drag-and-Drop-Workflow-Editor ermöglichen schnelle Konfiguration und optimieren komplexe Messaufgaben selbst unter anspruchsvollen Bedingungen hochpräzise effektiv.
Inhaltsverzeichnis: Das erwartet Sie in diesem Artikel
EyeVision nimmt H8/H8M Höhendaten direkt in einheitliche Benutzeroberfläche auf
Die neue Schnittstelle ermöglicht es Anwendern hochpräzise Höhendaten der H8/H8M-Sensoren direkt in EyeVision zu erfassen und nahtlos mit 2D-, 3D-, KI- und Code-Lese-Werkzeugen auszuwerten. Die Integration erfolgt dabei in der bewährten, einheitlichen Benutzeroberfläche von EyeVision, wodurch Nutzer von einer zentralen Softwareumgebung profitieren können. Auf diese Weise lassen sich Mess-, Analyse- und Automatisierungsabläufe effizient koordinieren und ermöglichen präzise Qualitätsprüfungen sowie datenbasierte Entscheidungen in Echtzeit. Anwendung ist flexibel skalierbar und robust.
Submikrometergenaue Höhendaten ermöglichen präzise Planaritäts- und Oberflächenprüfung höchste Qualität
Mit dem H8-Sensor lassen sich submikrometergenaue Höhendaten erfassen, die speziell für Planaritätsprüfungen und Oberflächenanalysen im Submikrometerbereich entwickelt wurden. Dank dieser präzisen Messtechnik werden selbst minimalste Unebenheiten und feinste Strukturen zuverlässig abgebildet. Die gewonnenen Messwerte unterstützen Anwender dabei, Oberflächendefekte rasch zu identifizieren und zu quantifizieren. Auf diese Weise können Fertigungsprozesse optimiert und Qualitätsanforderungen exakter eingehalten werden, ohne störungsbedingte Messabweichungen. Zudem ermöglicht die hohe Messgenauigkeit exakte Prozesskontrolle und präzise Qualitätsbewertungen. effizient. verlässlich.
H8-Weißlichtinterferometer bietet hochdynamische WLI für präzise und wiederholbare Oberflächenprofilierungen
Das hochdynamische Weißlichtinterferenzsystem (WLI) des H8 bietet eine außergewöhnlich feine Auflösung, um selbst geringste Höhenunterschiede auf Bauteiloberflächen zu erfassen und lückenlos zu protokollieren. Durch die präzise wiederholbare Profilierung lassen sich Oberflächenstrukturen detailliert analysieren und Abweichungen zuverlässig identifizieren. Diese Informationen ermöglichen eine stringente Qualitätskontrolle und optimierte Prozessabläufe. So profitieren Anwender von höherer Effizienz und Konstanz bei Messaufgaben in hochdynamischen Fertigungs- und Inspektionsumgebungen unter anspruchsvollsten Dynamikbedingungen und variierenden Materialoberflächen rasch zu validieren.
Nahtlose Integration von 3D-Punktwolken und Höhenkarten in EyeVision ermöglicht
Die in EyeVision generierten 3D-Punktwolken und detaillierten Höhenkarten lassen sich ohne zusätzliche Konvertierung direkt in die integrierten Auswertungstools übernehmen. Dort stehen spezialisierte Messfunktionen für Flächen- und Volumenanalysen sofort zur Verfügung. Kanten und Konturen werden automatisch erkannt, um Formabweichungen präzise zu identifizieren. Profilvergleiche ermöglichen die Gegenüberstellung unterschiedlicher Messungen zur Qualitätsprüfung. So gewährleistet das System eine effiziente und nahtlose Verarbeitung von Oberflächendaten. Diese automatisierte Methode reduziert manuelle Eingriffe und minimiert fehleranfällige Schritte.
EyeVision bleibt hardwareunabhängig und integriert Heliotis H8 H8M Sensoren
Die hardwareunabhängige Architektur von EyeVision erlaubt Anwendern maximale Flexibilität beim Einsatz unterschiedlichster Aufnahmegeräte. Durch die nahtlose Integration hochpräziser Heliotis H8/H8M 3D-Sensoren sowie Zeilenkameras und 2D-Kameras können auch anspruchsvolle Prüfaufgaben umgesetzt werden. Ergänzend lassen sich Wärmebild- und Hyperspektralkameras nutzen, um zusätzliche Informationen zu erfassen. Smart-Kameras erweitern das Anwendungsspektrum weiter. Dadurch ermöglicht die Lösung eine einfache Skalierung und zukunftssichere Erweiterung bestehender Automationssysteme. Module fügen sich unkompliziert in vorhandene Automationsprozesse und Systeme.
Visueller Workflow-Editor erstellt per Drag-and-Drop komplette Messketten in Sekunden
Der intuitive visuelle Workflow-Editor ermöglicht Anwendern die zügige Konfiguration komplexer Messketten per Drag-and-Drop. Sämtliche Module für präzise Messtechnik, automatisierte Fehlererkennung sowie detaillierte Oberflächenanalysen stehen unmittelbar zur Verfügung. Ergänzend lassen sich 3D-Punktwolken direkt integrieren und auswerten. Dank modularer Bauweise und benutzerfreundlicher Oberfläche können Anwender Workflows flexibel anpassen, optimieren und speichern. Diese Effizienzsteigerung reduziert Einrichtungszeiten und vereinfacht die Implementierung anspruchsvoller Inspektionsabläufe in der industriellen Automatisierung. Verantwortliche profitieren somit von beträchtlich hoher Prozesssicherheit.
EyeVision bietet schnelle Inbetriebnahme und Skalierung auf Windows Linux
Die Bildverarbeitungssoftware EyeVision ermöglicht eine schnelle Inbetriebnahme unterschiedlichster Systeme und gewährleistet dabei flexible Skalierung. Dank modularer Architektur lässt sich die Lösung ohne großen Aufwand in Embedded-Systemen und PC-Plattformen integrieren. Unterstützt werden Windows- und Linux-Umgebungen. Anforderungsspezifische Automatisierungsprozesse können problemlos angepasst, erweitert und optimiert werden. Dadurch reduziert sich die Implementierungsdauer erheblich, während industrielle Prüf- und Produktionsanlagen mit variierenden Leistungsanforderungen effizient betrieben werden können. Die Lösung unterstützt zudem Updates während des laufenden Betriebs.
EyeVision integriert Heliotis H8 H8M Sensoren für hochpräzise 3D-Daten
Mit der Integration der Heliotis H8/H8M Weißlicht-Interferometer-Sensoren erhält EyeVision Zugang zu hochpräzisen 3D-Höhendaten und dichten Punktwolken. Diese Erweiterung ermöglicht submikrometergenaue Oberflächeninspektionen und reproduzierbare Profilaufzeichnungen, wodurch Qualitätskontrollen und Fertigungsoptimierungen effizienter gestaltet werden. Die hardwareunabhängige Plattform verbindet nahtlos 2D- und 3D-Analysewerkzeuge und gewährleistet flexible Einsatzmöglichkeiten auf Windows- und Linux-Systemen. Darüber hinaus unterstützt das System hochdynamische WLI-Profilmessungen für feinste Höhenunterschiede und präzise Flächen- und Volumenanalysen. Anwender profitieren von schneller Inbetriebnahme, intuitivem Workflow-Editor und skalierbarer Automatisierung komplexer Messaufgaben.
